VLSI Design and Test for Systems Dependability

VLSI Design and Test for Systems Dependability

Asai, Shojiro

166,39 €(IVA inc.)
  • ISBN: 978-4-431-56592-5
  • Editorial: Springer
  • Encuadernacion: Cartoné
  • Páginas: 600
  • Fecha Publicación: 17/06/2017
  • Nº Volúmenes: 1
  • Idioma: Inglés