In-situ electron microscopy at high resolution

In-situ electron microscopy at high resolution

Banhart, F.

83,58 €(IVA inc.)
  • ISBN: 978-981-279-733-9
  • Editorial: World Scientific
  • Encuadernacion: Desconocida
  • Fecha Publicación: 01/01/2008
  • Nº Volúmenes: 1
  • Idioma: Inglés