Impurity Diffusion and Gettering in Silicon: Volume 36

Impurity Diffusion and Gettering in Silicon: Volume 36

Fair, Richard B.
Pearce, Charles W.
Washburn, Jack

30,05 €(IVA inc.)

TGM

  • ISBN: 978-1-107-40560-8
  • Editorial: Cambridge University Press
  • Encuadernacion: Rústica
  • Páginas: 300
  • Fecha Publicación: 05/06/2014
  • Nº Volúmenes: 1
  • Idioma: Inglés