Degradation Processes in Reliability
Kahle, Waltraud
Mercier, Sophie
Paroissin, Christian
117,31 €(IVA inc.)
INDICE: 1 Introduction .2 Wiener processes .3 Gamma processes .4 A doubly stochastic marked Poisson processes .5 Some other models and conclusion
- ISBN: 978-1-84821-888-8
- Editorial: ISTE Ltd.
- Encuadernacion: Cartoné
- Páginas: 200
- Fecha Publicación: 01/07/2016
- Nº Volúmenes: 1
- Idioma: Inglés