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103,95€(IVA inc.)
Lock-in thermography: basics and use for evaluating electronic devices and materials
- Breitenstein, Otwin
- 978-3-642-02416-0
- 2010-01-01
23,00€(IVA inc.)
Ultrasonidos, nivel II: ensayos no destructivos
- Gómez de León, Eduardo
- 978-84-9273-506-8
- 2009-12-31
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Computational methods for microstructure-propertyrelationships
- Ghosh, Somnath
- 978-1-4419-0642-7
- 2009-12-01
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SMST 2008: Proceedings of the International Conference on Shape Memory and Superelastic Technologies
- Tuissi, Ausonio
- 978-1-4419-0845-2
- 2009-09-01
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Virtual testing and predictive modeling: fatigue and fracture mechanics allowables
- Farahmand, B.
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- 2009-08-01
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Apuntes gráficos de resistencia de materiales
- Sin autor
- 978-84-97734-65-3
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Controlled assembly and modification of inorganicsystems
- Wu, Xin-Tao
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Ampliación de Resistencia de Materiales: Ejercicios Resueltos
- Victoria Nicolás, M.
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